高壓加速老化試驗(yàn)箱(HAST)適用于半導(dǎo)體芯片行業(yè)以及航空、航天、兵器、船舶、核工業(yè)、科研院校等領(lǐng)域。通過(guò)對(duì)電子部品、元器件、集成電路以及材料、工藝等通過(guò)加速進(jìn)行高溫、高濕、高壓循環(huán)及恒定試驗(yàn)測(cè)試來(lái)確認(rèn)其是否因耐久性(壽命)或環(huán)境變化而導(dǎo)致功能失效。
高壓加速老化試驗(yàn)箱主要測(cè)試環(huán)境包含THB(主要的測(cè)試條件是溫度為85℃/相對(duì)濕度為85%/規(guī)定電壓）、PCT（通常指100%相對(duì)濕度的飽和蒸汽測(cè)試）、HAST（通常指相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測(cè)試）。
隨著社會(huì)發(fā)展進(jìn)步，我們生產(chǎn)生活中需要使用的電子設(shè)備、電子產(chǎn)品越來(lái)越頻繁，對(duì)其質(zhì)量品質(zhì)的要求越來(lái)越高（如重量、壽命、安全、外形等）；這意味著生產(chǎn)商在選擇原材料及電子元件時(shí)需提出更高質(zhì)量需求。以半導(dǎo)體模具為塑料材料為例：
試驗(yàn)條件①在溫度為 85 ℃，濕度為85% 85% 的測(cè)試條件下，壽命周期超過(guò)500小時(shí)。
②在溫度為121 ℃，濕度為100% 的測(cè)試條件下，壽命周期超過(guò)數(shù)十小時(shí)。
在滿(mǎn)足上述條件的情況下：推測(cè)試件在溫度為30℃和相對(duì)濕度為85%的通常使用環(huán)境下，使用壽命應(yīng)超過(guò)10年。
綜上所述，可以對(duì)零件和材料做防潮性能測(cè)試，來(lái)檢查由濕度所造成的裂變或者失效，通過(guò)加速壽命測(cè)試來(lái)檢查試件防潮性能。高壓加速老化試驗(yàn)箱可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中的不良或缺陷，以便更好地完善產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。
設(shè)計(jì)為滑動(dòng)托盤(pán):
①樣品托盤(pán)安置于工作倉(cāng)的外部，放置樣品時(shí)可在倉(cāng)外完成而不必把手放進(jìn)爐腔里面操作，這樣可減小操作人員燒傷的危險(xiǎn)。
②在工作倉(cāng)外面完成老化測(cè)試的配線工作，操作便捷、工作效率高、安全系數(shù)大。
